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詳情介紹
產品簡介：
激光粒度分析儀是一款具備zeta電位和納米粒度雙重測試能力的高-端動態光散射粒度儀產品。
使用電泳光散射技術測定zeta電位，求出等電點，是認識顆粒表面電性的重要方法，在顆粒表面處理中也是重要的手段。與國內外其它同類型儀器相比，它具有顯著的優-越性，并可以配合激光粒度分布儀聯合應用于各項試驗。
適用范圍：
同時具有Zeta電位及納米粒徑的分析測試功能，適用于多種不同的納米乳液、懸浮液膠體等的粒度和表面電位測量，能廣泛應用于精細化工行業納米材料、表活、低聚物等的研發和生產質控，同時也是油墨，醫藥制劑等行業產品研發及質控檢測儀器。
激光粒度分析儀產品特點和優勢：
| 測試原理 | 采用電泳光散射原理和光子相關光譜技術，根據顆粒在液體中的電泳運動速度測定顆粒Zeta電位的大小。顆粒電泳運動的群體速度，激光照射這些顆粒，導致的散射光多普勒頻移量不同。光子相關光譜法就根據頻移量分析顆粒Zeta電位的大小。 |
| 超高速數據采集 | 本儀器的核心部件通過HA1024數字相關器，能實時完成電泳散射光強的采集和自相關函數運算，從而有效地反映顆粒的電泳運動速度的信息，為Zeta電位測試結果的準確性奠定基礎。 |
| 高靈敏度信噪比 | 采用專業級高性能光電倍增管，對光子信號具有極-高的靈敏度和信噪比。 |
| 高精度恒溫控制 | 采用半導體溫控技術，溫控精度高達0.1℃,使樣品在整個測試過程中始終處于恒溫狀態，避免溫度變化而引起液體黏度及布朗運動變化導致的測試偏差，保證測試結果準確性及穩定性 |
| 穩定的光路系統 | 采用光學移頻裝置與光纖耦合技術搭建而成的光路系統，使探測系統不僅體積小，而且具有很強的抗干擾能力，從而保證了測試的穩定性。 |
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